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(noticias nanowerk) La investigación dirigida por Marti Checa y Liam Collins del Laboratorio Nacional Oak Ridge desarrolló un enfoque innovador descrito en la revista comunicación de la naturaleza (“Mapeo de alta velocidad de la dinámica de carga superficial utilizando microscopía de fuerza de sonda Kelvin de baja fuerza atómica”) para comprender el comportamiento de una carga eléctrica a nivel microscópico.
Sus hallazgos podrían ser cruciales para mejorar la eficiencia, la vida útil y el rendimiento de las baterías, las células solares y otros dispositivos electrónicos.
![El movimiento de la punta en espiral combinado con técnicas de reconstrucción de imágenes es un enfoque que puede ayudar a los científicos a comprender mejor el comportamiento de una carga eléctrica a nivel microscópico.](https://www.nanowerk.com/nanotechnology-news3/id64591_1.jpg)
En el artículo, el equipo explica su método, que permite visualizar los movimientos de carga en la escala nanométrica, es decir, una milmillonésima parte de un metro, pero a velocidades mil veces más rápidas que los métodos tradicionales.
Collins describió la técnica como comparable a una cámara de alta velocidad, permitiendo vídeos detallados del movimiento de las alas de un colibrí donde antes sólo eran posibles instantáneas borrosas.
Para lograr esta capacidad, utilizaron un microscopio de sonda de barrido equipado con un sistema de control automatizado que permite un patrón en espiral único para un escaneo eficiente junto con técnicas avanzadas de visión por computadora para el análisis de datos. La visión rápida y completa de los procesos que ofrece el nuevo enfoque era antes inalcanzable.
«El método presentado en este estudio amplía el conjunto de herramientas disponibles para los usuarios en el Centro de Ciencia de Materiales Nanofásicos de ORNL y facilita la investigación de diversos dispositivos y materiales», dijo Checa.
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