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Oxford Instruments Asylum Research anuncia hoy el lanzamiento de su nuevo accesorio de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (nanoTDDB) a nanoescala de alto voltaje para el microscopio de fuerza atómica (AFM) Júpiter XR. La técnica NanoTDDB mide el voltaje al que un material sufre una ruptura dieléctrica. Este exclusivo accesorio nanoTDDB amplía la gama de herramientas de caracterización eléctrica disponibles en Jupiter XR, permitiendo mediciones avanzadas en semiconductores, materiales 2D, películas delgadas y polímeros.
“El accesorio nanoTDDB puede medir tensiones de ruptura de hasta ±150 V en muestras tanto pequeñas como grandes, como obleas de 200 mm. «Es una gran adición al paquete de accesorios Jupiter XR AFM». comentó la Dra. Jason Li, director del grupo de ciencia de productos de Oxford Instruments Asylum Research.
Los AFM para la investigación sobre asilo se utilizan ampliamente en muchas áreas diferentes de investigación industrial y académica, incluido el almacenamiento de energía, polímeros, semiconductores y materiales 2D. Las imágenes típicas de Júpiter tardan menos de 60 segundos en capturarse.
Fuente: https://afm.oxinst.com/
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